QFN52-0.4翻蓋彈片測(cè)試座/老化座
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)品用途:編程座、測(cè)試座，對(duì)QFN52的IC芯片進(jìn)行老化、測(cè)試
適用封裝:QFN52引腳間距0.4mm
測(cè)試座:QFN52-0.4
特點(diǎn):采用U型頂針，接觸更穩(wěn)定
規(guī)格尺寸
型號(hào):QFN52-0.4
引腳間距(mm):0.4
腳位:52
適配芯片尺寸: 7*7mm
免費(fèi)店鋪，已到期！
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QFN52-0.4翻蓋彈片測(cè)試座/老化座
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產(chǎn)品用途:編程座、測(cè)試座，對(duì)QFN52的IC芯片進(jìn)行老化、測(cè)試
適用封裝:QFN52引腳間距0.4mm
測(cè)試座:QFN52-0.4
特點(diǎn):采用U型頂針，接觸更穩(wěn)定
規(guī)格尺寸
型號(hào):QFN52-0.4
引腳間距(mm):0.4
腳位:52
適配芯片尺寸: 7*7mm
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